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소개 : 미세전자공학의 전망과 동향, 특성의 중요성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
7. | ![]() |
Chap.2 물질의 특성 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Annex.1 SOI 물질들 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
9. | ![]() |
Annex.2 SoI 소자 | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
10. | ![]() |
Chap.3 캐패시터와 다이오드 (1) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
11. | ![]() |
Chap.3 캐패시터와 다이오드 (2) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
12. | ![]() |
Chap.3 캐패시터와 다이오드 (3) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
13. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (1) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
14. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (2) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
15. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (3) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
16. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (4) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
17. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (5) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
18. | ![]() |
Chap.4 MOSFET 측정 (6) | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |
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Annex.2 캐패시터가 없는Floating-body SOI DRAMs | 반도체 특성 평가 : 진보된 SOI 구조의 적용 | ![]() |